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全新應用筆記:使用 SIM 在示波器上進行去嵌入(De-embedding)、嵌入(Embedding)與等化(Equalization)

發布時間:2026-08-21 10:22:14 人氣:3

隨著資料傳輸速率持續提升,訊號完整性(Signal Integrity)所面臨的挑戰也快速增加。

通道損耗(Channel Loss)與符際干擾(Inter-Symbol Interference, ISI)會壓縮眼圖開口,

阻抗不連續則可能產生反射;甚至量測環境中的探棒、纜線和治具,也可能改變實際觀測點,

使其偏離待測元件(Device)的接腳位置。

 

Tektronix Signal Integrity Modeling SoftwareSIM)可直接在示波器上執行去嵌入、

嵌入與等化功能,讓您即時移除或模擬纜線、治具及通道所帶來的影響。透過這項功能,

您可以在真正的參考平面(Reference Plane)上分析訊號,

並在不離開實驗工作台的情況下探索各種「假設情境(What-if Scenarios)」。

藉由消除量測架構所造成的失真,SIM 能幫助您避免兩種代價高昂的風險:誤判失敗(False Failures)以及錯誤的信心(False Confidence)。

 

立即下載此應用筆記,了解 SIM 如何提供完整的訊號路徑可視性,

協助您更有信心地完成法規符合性驗證、最佳化系統效能,並加速產品上市時程。


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